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fireye離子探針69ND1-1000K4現貨銷(xiāo)售A、自簽收貨物算起7天內,如產(chǎn)品自身原因故障,請系我們售后客服咨詢(xún)。發(fā)回我司檢測屬實(shí),我司承擔保換或保修,并由我司承擔寄回給您的運費。超過(guò)7天,來(lái)回運費需由您承擔
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產(chǎn)品分類(lèi)article
相關(guān)文章價(jià)格區間 | 面議 | 自動(dòng)化度 | 半自動(dòng) |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
fireye離子探針69ND1-1000K4現貨銷(xiāo)售
A、自簽收貨物算起7天內,如產(chǎn)品自身原因故障,請系我們售后客服咨詢(xún)。發(fā)回我司檢測屬實(shí),我司承擔保換或保修,并由我司承擔寄回給您的運費。超過(guò)7天,來(lái)回運費需由您承擔;B、退換的產(chǎn)品,必須包裝及配件完好、齊全,不影響第二次銷(xiāo)售;C、所有返修產(chǎn)品,由您支付返廠(chǎng)(返店)運費,收到貨后我們客服會(huì )與您跟進(jìn)系。任何到付件,一律拒收退回;產(chǎn)品說(shuō)明:
離子探針(IMA)的基本原理是,用高能負氧離子轟擊樣品表面,測定被飛濺活化出來(lái)并發(fā)生電離的原子(即離子)的同位素組成,以獲得年齡。為一種得到迅猛發(fā)展的新型質(zhì)譜計,它具有許多其他測年方法所沒(méi)有的優(yōu)點(diǎn):不需要化學(xué)處理;具有高的分辨率,可同時(shí)獲得幾組年齡以確定被測對象同位素體系是否封閉,有無(wú)鉛丟失;可對樣品作微區(約20微米)分析而基本不破壞樣品,故可獲得礦物內部年齡分布的精細結構,這對了解具有復雜歷史礦物的形成過(guò)程及由此反映的地質(zhì)演化十分重要;測年對象的時(shí)代跨度很大,從不到100百萬(wàn)年到40億年以上,地球上幾乎所有最古老巖石和鋯石的準確定年都是由這一方法完成的。所測礦物主要為、鈦鐵礦等含U、Th礦物的測年研究受到重視InSight探頭測量目標火焰產(chǎn)生的調制振幅。在探頭的設定程序中,選擇產(chǎn)生佳火焰ON/OFF分辨率的頻率。并可手動(dòng)調節(S1型)或越過(guò)手動(dòng)調節進(jìn)行自動(dòng)調節合適的調制頻率和探頭增益(S2型)。
fireye離子探針69ND1-1000K4現貨銷(xiāo)售選定了火焰頻率后,輸入火焰繼電器的ON/OFF門(mén)檻值。在4-20mA的信號強度輸出中,最小值(4mA)代表信號強度為“0”,最大值(20mA)代表信號強度為“100”。
火焰繼電器 當信號強度達到或已超過(guò)已設定的火焰“ON”的門(mén)檻值是被激勵得電(常開(kāi)觸點(diǎn)閉合),當型號強度達到并低于已設定的火焰“OFF”門(mén)檻值時(shí),繼電器失電(閉合觸點(diǎn)打開(kāi))。當供電中斷或檢測到內部故障時(shí),繼電器回路也會(huì )打開(kāi)。
故障繼電器 當探頭正常供電(24vdc)和探頭內部通過(guò)自己無(wú)誤時(shí)被激勵得電。當供電中斷或內部檢測到故障時(shí)失電。一個(gè)常開(kāi)觸點(diǎn)信號(來(lái)自故障繼電器)被串接到火焰繼電器的內部,一個(gè)常閉觸點(diǎn)信號由于報警顯示。
Type95IR設有一個(gè)紅外火焰傳感器,對紅外線(xiàn)波長(cháng)的相應范圍是700到1700nm。此型號適用于燃料是煤和油的工況。
Type95UV設有一個(gè)紫外火焰傳感器,對紫外線(xiàn)的波長(cháng)相應范圍是295到320nm。此型號適用于燃料是氣的工況。
Type95DS同時(shí)設有以上所描述的紅外和紫外傳感器。此型號適用于多種燃料的工況。
標準型S1適用于不需要高分辨率或者不需要擴展型S2所具有的遠程通訊功能的多種場(chǎng)合。(例如單燃燒器鍋爐和工業(yè)爐等)擴展型S2適用于需要有最高分辨率和最高靈活性(增加火焰頻率的選擇,省時(shí)自動(dòng)調節功能)和遠程通訊能力的場(chǎng)合(例如大型多燃燒器鍋爐和工業(yè)爐)離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面,測射出原子及分子的二次離子,在磁場(chǎng)中按質(zhì)荷比(m/e)分開(kāi),可獲得材料微區質(zhì)譜圖譜及離子圖像,再通過(guò)分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類(lèi)的樣品須作不同制備,離子探針兼有電子探針、火花型質(zhì)譜儀的特點(diǎn)??梢蕴綔y電子探針顯微分析方法檢測極限以下的微量元素,研究其局部分布和偏析??梢宰鳛橥凰胤治???梢苑治鰳O薄表面層和表面吸附物,表面分析時(shí)可以進(jìn)行縱向的濃度分析。成像離子探針適用于許多不同類(lèi)型的樣品分析,包括金屬樣品、半導體器件、非導體樣品,如高聚物和玻璃產(chǎn)品等。廣泛應用于金屬、半導體、催化劑、表面、薄膜等領(lǐng)域中以及環(huán)??茖W(xué)、空間科學(xué)和生物化學(xué)等研究部門(mén)。
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